Электростатическая линза для коррекции пучка ионов магнетронного источника

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

Описаны принципиальная схема и конструкция электростатической линзы для коррекции и дополнительной фокусировки пучка, выходящего из источника ионов магнетронного типа. Представлен чертеж такой линзы.

全文:

受限制的访问

作者简介

А. Терентьев

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”

编辑信件的主要联系方式.
Email: Terentev_AA@nrcki.ru
俄罗斯联邦, 123098, Москва, пл. Академика Курчатова, 1

参考

  1. Computer code SIMION 3D Version 7.0 Sci. Instrum. Services, Ringoes, NJ 08551, USA.

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
2. Fig. 1. Ion beam deflection in a magnetron source in a horizontal plane: 1 — gas discharge chamber, 2 — magnetic field, 3 — filament (cathode), 4 — exit slit, 5 — source body (anode), 6 — input pipe of the setup, 7 — ion beam.

下载 (499KB)
3. Fig. 2. Divergence of the ion beam in the vertical plane.

下载 (471KB)
4. Fig. 3. Electrostatic diagram of the lens.

下载 (155KB)
5. Fig. 4. Electrostatic unit.

下载 (186KB)
6. Fig. 5. Lens design.

下载 (218KB)
7. Fig. 6. Change in beam current with deviation of voltage on the lens (a), magnetic field in the source (b).

下载 (157KB)

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024