Модификация и распыление неоднородных многослойных окисленных металлических пленок слаботочными пучками ионов аргона
- Авторы: Лукьянцев Д.С.1, Лубенченко А.В.1, Иванов Д.А.1, Паволоцкий А.Б.2, Лубенченко О.И.1, Иванова И.В.1, Павлов О.Н.1
-
Учреждения:
- Национальный исследовательский университет «МЭИ»
- Технический университет Чалмерса
- Выпуск: № 5 (2024)
- Страницы: 69-77
- Раздел: Статьи
- URL: https://medjrf.com/1028-0960/article/view/664644
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096024050106
- EDN: https://elibrary.ru/FTUQEX
- ID: 664644
Цитировать
Аннотация
В работе представлены результаты исследования формирования субоксидных слоев на различных тонких окисленных пленках ниобия с помощью модификации и распыления их поверхности слаботочными пучками ионов аргона. Пленки ниобия различной толщины выращены магнетронным напылением на окисленной кремниевой подложке. Проведено несколько этапов ионного облучения. Поверхность пленок исследована неразрушающими методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, в том числе с угловым разрешением. Определен химический послойный фазовый состав пленок. Обнаружено, что в процессе окисления на атмосферном воздухе на пленках ниобия разной толщины образуются слои пентаоксида и различных стехиометрических и нестехиометрических субоксидов. В процессе ионного воздействия состав и толщина последних не изменяются. Результаты численного моделирования показывают, что при ионном воздействии преимущественно распыляются атомы кислорода. Распыляется и модифицируется только поверхностный слой пентаоксида ниобия. Обнаружено, что на первом этапе ионного воздействия во всех пленках формируются различные слои стехиометрических субоксидов и пентаоксидов других фаз, отличных от первоначальных, причем состав поверхностных субоксидных слоев меняется незначительно. Результаты исследования показывают возможность формирования субоксидных слоев различных состава и толщины при изменении параметров ионного облучения поверхности металлической пленки.
Полный текст

Об авторах
Д. С. Лукьянцев
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Автор, ответственный за переписку.
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
А. В. Лубенченко
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
Д. А. Иванов
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
А. Б. Паволоцкий
Технический университет Чалмерса
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Швеция, Гетеборг
О. И. Лубенченко
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
И. В. Иванова
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
О. Н. Павлов
Национальный исследовательский университет «МЭИ»
Email: LukyantsevDS@mpei.ru
Россия, Москва
Список литературы
- Белов А.Н., Перевалов А.А., Шевяков В.И. // Изв. вузов. Электроника. 2017. Т. 22. № 4. С. 305. https://www.doi.org/10.24151/1561-5405-2017-22-4-305-321
- Gul M., Efeoglu H. // J. Mater. Sci.: Mater. Electronics. 2022. V. 33. № 10. P. 7423. https://www.doi.org/10.1007/s10854-022-07864-z
- Slesazeck S., Mähne H., Wylezich H., Wachowiak A., Radhakrishnan J., Ascoli A., Tetzlaff R., Mikolajick T. // RSC Advs. 2015. V. 5. № 124. P. 102318. https://www.doi.org/10.1039/c5ra19300a
- Nico C., Soares M.R.N., Rodrigues J., Matos M., Monteiro R., Graça M.P.F., Valente M.A., Costa F.M., Monteiro T. // J. Phys. Chem. C. 2011. V. 115. № 11. P. 4879. https://www.doi.org/10.1021/jp110672u
- Barman A., Saini C.P., Sarkar P., Satpati B., Bhattacharyya S.R., Kabiraj D., Kanjilal D., Dhar S., Kanjilal A. // J. Appl. Phys. 2015. V. 118. № 22. https://www.doi.org/10.1063/1.4936961
- Song W.D., Ying J.F., He W., Zhuo V.Y.-Q., Ji R., Xie H.Q., Ng S.K., Ng Serene L.G., Jiang Y. // Appl. Phys. Lett. 2015. V. 106. № 3. https://www.doi.org/ 10.1063/1.4906395
- Kasatikov S., Filatova E., Sakhonenkov S., Kona- shuk A., Makarova A. // J. Phys. Chem. C. 2019. V. 123. № 11. P. 6849. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpcc.8b12053
- Lukiantsev D.S., Lubenchenko A.V., Ivanov D.A., Lubenchenko O.I., Pavolotsky A.B., Iachuk V.A., Pavlov O.N. The Formation of nanosuboxide layers in the oxide of niobium in low-power ion beam of argon // Proc. 3rd International Youth Conference on Radio Electronics, Electrical and Power Engineering (REEPE). IEEE, 2021. P. 1. https://www.doi.org/10.1109/REEPE51337.2021.9388002
- Лубенченко А.В., Иванов Д.А., Лубенченко О.И., Паволоцкий А.Б., Лукьянцев Д.С., Ячук В.А., Павлов О.Н. // Журнал технической физики. 2022. Т. 92. Вып. 8. С. 1172. https://www.doi.org/10.21883/JTF.2022.08.52779.68-22
- Lubenchenko A.V., Ivanov D.A., Lukiantsev D.S., Smirnov M.B., Pavlov O.N. Investigation of the effect of multiple oxidation and ion sputtering on the formation of inhomogeneous oxide layers on the surface of an ultrathin metal film // Proc. 5th International Youth Conference on Radio Electronics, Electrical and Power Engineering (REEPE). IEEE, 2023. V. 5. P. 1. https://www.doi.org/10.1109 REEPE57272.2023.10086730
- Fadley C.S., Baird R.J., Siekhaus W., Novakov T., Bergström S.Å.L. // J. Electron Spectroscopy Related Phenomena. 1974. V. 4. № 2. P. 93. https://www.doi.org/10.1016/0368-2048(74)90001-2
- Macak K. // Surf. Interface Analysis. 2011. V. 43. № 13. P. 1581. https://www.doi.org/10.1002/sia.3753
- Lubenchenko A.V., Batrakov A.A., Pavolotsky A.B., Lubenchenko O.I., Ivanov D.A. // Appl. Surf. Sci. 2018. V. 427. P. 711. https://www.doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.07.256
- Lubenchenko A.V., Batrakov A.A., Shurkaeva I.V., Pavolotsky A.B., Krause S., Ivanov D.A., Lubenchen-ko O.I. // J. Surf. Invest. X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2018. V. 12. P. 692. https://www.doi.org/10.1134/S1027451018040134
- Doniach S., Sunjic M. // J. Phys. C: Solid State Phys. 1970. V. 3. № 2. P. 285. https://www.doi.org/10.1088/0022-3719/3/2/010
- Crist B.V. Handbook of monochromatic XPS spectra: The elements of native oxides. John Wiley & Sons, 2000. 519 p.
- Yeh J.J., Lindau I. // Atomic Data and Nuclear Data Tables. 1985. V. 32. № 1. https://www.doi.org/10.1016/0092-640X(85)90016-6
- Moulder J.F., Stickle W.F., Sobol P.E., Bomben K.D. Handbook of X-Ray Photoelectron Spectroscopy. A Reference Book of Standard Spectra for Identification and Interpretation of XPS Data. / Ed. Chastain J., King R.C. Physical Electronics, Eden Prairie, MN, 1995.
- Lubenchenko A.V., Batrakov A.A., Pavolotsky A.B., Krause S., Shurkaeva I.V., Lubenchenko O.I., Iva- nov D.A. An XPS method for layer profiling of NbN thin films // EPJ Web of Conferences. EDP Sciences, 2017. V. 132. P. 03053. https://www.doi.org/10.1051/epjconf/201713203053
- Biersack J.P., Haggmark L.G. // Nucl. Instrum. Methods. 1980. V. 174. № 1–2. P. 257. https://www.doi.org/10.1016/0029-554X(80)90440-1
Дополнительные файлы
